芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器.pdfVIP

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2023-05-30 发布于四川
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芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器.pdf

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本发明一个或多个实施例公开了一种芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器。其中，芯片测试方法，包括：获取自动测试设备ATE向量的源文件，其中，所述源文件包括以预设编译语言创建的文本文件；根据所述源文件生成目标芯片的ATE向量；根据所述ATE向量对所述目标芯片进行ATE上机测试。该方法可缩短芯片测试周期。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112444731 B (45)授权公告日 2023.04.11 (21)申请号 202011200242.7 (56)对比文件 (22)申请日 2020.10.30