可拾取及测试的微器件及制作、测试、转移方法及显示器.pdfVIP

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2023-05-30 发布于四川
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本发明提供了可拾取及测试的微器件及制作、测试、转移方法及显示器，通过：在所述沟槽表面设有第一牺牲层，各所述测试电极于所述沟槽对应的第一牺牲层上方间隔分布，且远离所述LED芯粒而设置；还包括与所述测试电极呈交叉分布的若干个金属桥，所述金属桥用于串联相邻两个LED芯粒的电极，且所述金属桥与所述相邻两个LED芯粒对应沟槽处的测试电极形成连接；所述第二牺牲层包覆各所述LED芯粒使其形成独立的包覆单元；从而，实现LED芯粒与测试结构的一体化，同时达到LED芯粒排列与分选的目的，以确保后续测试及转移过程的完

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112447787 A (43)申请公布日 2021.03.05 (21)申请号 202011370305.3 (22)申请日 2020.11.30 (71)申请人厦门乾照半导体科技有限公司