一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法.pdfVIP

一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法.pdf

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本发明公开了一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法;该具有防堵塞功能的集成电路测试仪器:当需要对该测试仪器进行日常防护时,通过转动机壳一侧的防尘盖,使得防尘盖通过转轴进行旋转,当防尘盖将机壳一侧的引线接口和测试口位置遮挡时,使得防尘盖将外界的灰尘等杂质排除在外,从而防止接口位置受到堵塞;当该测试仪器在日常使用时,将护垫通过一侧的卡条对准机壳的卡槽,使得卡条卡合连接进卡槽中,并且使用配套螺丝将护垫固定在机壳顶部两端的拐角位置处,从而通过护垫对机壳进行防碰撞保护。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112433143 A (43)申请公布日 2021.03.02 (21)申请号 202011311258.5 (22)申请日 2019.11.18 (62)分案原申请数据 2019111

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