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本申请提供了一种检测方法、装置、结构、存储介质和处理器,该检测方法包括:检测待测表面的位置;至少根据第一参考平面的至少两个参考点分别到待测表面之间的距离,确定待测表面是否平整,定义第一参考平面上的点为参考点。该检测方法中,首先检测待测表面的位置,然后再根据第一参考平面的至少两个参考点到待测表面之间的距离,确定待测表面是否平整。该方法可以实现自动化测量,无需人工操作测量,测量效率较高。
(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112444231 B (45)授权公告日 2022.07.19 (21)申请号 201910818130.9 (51)Int.Cl.
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