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本发明属于芯片测试领域,具体公开了一种超导量子芯片串扰残余验证方法,包括基于串扰测量矩阵确定串扰补偿矩阵,其中:所述串扰补偿矩阵和所述串扰测量矩阵的矩阵乘积为单位矩阵;基于所述串扰补偿矩阵和所述超导量子芯片的预设工作性能,确定所述预设工作性能对应的超导量子芯片的串扰验证条件;基于预设条件和所述串扰验证条件对所述超导量子芯片执行操作,获得所述超导量子芯片的测量工作性能;通过所述测量工作性能和所述预设工作性能的比较判断所述超导量子芯片上是否存在串扰残余。本发明验证超导量子芯片串扰残余为超导量子芯片的
(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112444738 B (45)授权公告日 2022.03.18 (21)申请号 201910804641.5 CN 107210780 A,2017.09.26 (22)
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