一种检测叠片裸电芯片数合格的方法.pdfVIP

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2023-05-29 发布于四川
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一种检测叠片裸电芯片数合格的方法.pdf

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本发明公开了一种检测叠片裸电芯片数合格的方法，采用X‑ray检测结合裸电芯称重法，X‑ray检测采用特定压力夹持裸电芯，特定角度拍摄的方法，利用正极片质量较重的特点，采用裸电芯称重比对裸电芯规格值的方法，有效控制正极片多片少片问题，结合X‑ray检测，实现优势互补，控制极片数量。本发明完全解决叠片电池极片数量控制的问题，完全避免叠片电芯的多片少片问题，增强过程控制，有效避免极片平整度差、极片相互粘连、电芯尺寸较大对图像质量的影响，便于计算机分析计算，降低对X‑ray分析软件的算法要求，保证计算结

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112393792 A (43)申请公布日 2021.02.23 (21)申请号 202010857713.5 (22)申请日 2020.08.24 (71)申请人万向一二三股份公司地