安全芯片的掉电测试方法及装置.pdfVIP

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2023-05-29 发布于四川
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安全芯片的掉电测试方法及装置.pdf

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本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112416669 A (43)申请公布日 2021.02.26 (21)申请号 202011171244.8 (22)申请日 2020.10.28 (71)申请人北京