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2023-05-26 发布于四川
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晶体判定方法、装置及存储介质.pdf

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一种晶体判定方法、装置及存储介质，其中，该方法包括：获取晶体在预设温度段的至少三个温度值，以及每个温度值对应的测试频偏值，根据该至少三个温度值以及每个温度值对应的测试频偏值，确定晶体在预设温度段时晶体对应频偏曲线的拟合一次项系数值和拟合常数项值，根据得到的拟合一次项系数值和拟合常数项值，判定该晶体是否合格。该方法的判定结果准确度高，可靠性高，避免了不合格晶体无法被发现的问题。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112292814 A (43)申请公布日 2021.01.29 (21)申请号 201880094853.2 (51)Int.Cl.