一种中子探测器可靠性验证方法及装置.pdfVIP

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2023-05-25 发布于四川
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一种中子探测器可靠性验证方法及装置.pdf

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本发明涉及一种中子探测器可靠性验证方法及装置，包括：S1、获取中子探测器输出的原始脉冲，对所述原始脉冲预处理以得到处理后的初始脉冲；S2、对所述初始脉冲进行采样以获取采样信号，并设定一识别阈值对所述采样信号进行识别以获取满足所述识别阈值的采样信号为有效采样信号以缓存；S3、获取所述有效采样信号并对所述有效采样信号通过预设算法进行恢复得到有效脉冲；S4、根据所述有效脉冲的幅值和面积以获取所述中子探测器的性能。实施本发明能够达到根据采集脉冲进行频谱分析以达到评估探测器的可靠性的目的，其评价结果更加准

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112213766 A (43)申请公布日 2021.01.12 (21)申请号 202011049559.5 G01T 7/00 (2006.01) (22)申请日 20