嵌入式设备测试方法、装置及电子设备.pdfVIP

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2023-05-25 发布于四川
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本发明公开了一种嵌入式设备测试方法、装置及电子设备，对目标程序进行插桩；获取插桩后的目标程序运行过程中内存分配与函数调用数据；将内存分配与函数调用数据通过网络发送至服务器，以使所述服务器根据所述内存分配与函数调用数据分析目标程序的内存泄露情况。使用本发明的嵌入式设备测试方法，相较于现有技术，进行嵌入式设备内存泄露测试时，无需在嵌入式设备上保存大量内存分配与函数调用数据，同时也不需要调用嵌入式设备的CPU资源进行内存泄露分析，降低了嵌入式设备的内存消耗和CPU消耗。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112241366 A (43)申请公布日 2021.01.19 (21)申请号 202011012214.2 (22)申请日 2020.09.23 (71)申请人厦门亿联网络技术股份有限公司