DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备.pdfVIP

下载本文档

7
0
约2.18万字
约 20页
2023-05-25 发布于四川
举报
版权申诉

DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开一种DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，对待测试的DRAM先以预设突发长度为单位进行基于第一预设读写单元的突发读写访问操作，再进行基于第二预设读写单元的突发读写访问操作，第一预设读写单元与第二预设读写单元不同，由于预设读写单元的读写访问是从预设读写单元的两端同时向中间进行读写，并且通过掩码依次选通所述预设突发长度的预设写入位并屏蔽其余位直至所述预设突发长度对应的每一位均写入数据，因此，更贴近用户使用的环境，且相较于现有的突发访问测试，通过使用掩码从而实现在一个突发长度内实现

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112216339 A (43)申请公布日 2021.01.12 (21)申请号 202011136998.X (22)申请日 2020.10.22 (71)申请人深圳佰维存储科技股份有限公司