一种半导体器件检测方法、装置、智能终端及存储介质.pdfVIP

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2023-05-24 发布于四川
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一种半导体器件检测方法、装置、智能终端及存储介质.pdf

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本发明公开了一种半导体器件检测方法、装置、智能终端及存储介质，其中，上述半导体器件检测方法包括：获取半导体器件的彩色图像；对上述彩色图像进行处理，获得至少两个不同颜色通道的目标图像；基于各上述目标图像进行图像特征分析并与预设的特征检测标准进行对比及判断，结合各上述目标图像的判断结果获得上述半导体器件的检测结果；输出上述检测结果。本发明方案将半导体器件的彩色图像分为多个颜色通道的目标图像并分别进行分析判断，结合各个颜色通道下的判断结果获得半导体器件的检测结果。因此，本发明方案可有效降低环境以及半导

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112184689 A (43)申请公布日 2021.01.05 (21)申请号 202011084992.2 (22)申请日 2020.10.12 (71)申请人罗建华地址 523