一种高密度芯片的DDR接口电路故障诊断的方法和装置.pdfVIP

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2023-05-24 发布于四川
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一种高密度芯片的DDR接口电路故障诊断的方法和装置.pdf

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本发明公开了一种高密度芯片的DDR接口电路故障诊断的方法和装置，包括主板和测试模块，所述主板包括芯片和DDR座子，所述测试模块包括LED指示灯Dn、调节电阻RTn和供电模块POWER，所述测试模块通过DDR座子与主板相连。本发明与现有技术相比的优点在于：硬件设计简单，无需软件，成本低，无需主板上电，可适配不同的芯片，操作简单且直观，可以大大节省公司的研发成本和周期。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112180242 A (43)申请公布日 2021.01.05 (21)申请号 202011105111.0 (22)申请日 2020.10.15 (71)申请人东莞