一种用于芯片生产的测试系统.pdfVIP

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2023-05-24 发布于四川
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一种用于芯片生产的测试系统.pdf

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本发明涉及测试系统，具体涉及一种用于芯片生产的测试系统，包括控制器、芯片分类测试机构、待测芯片，以及设于芯片分类测试机构、待测芯片上的身份标识，控制器与用于将待测芯片放入芯片分类测试机构或从芯片分类测试机构上拾取待测芯片的芯片拾取机构相连，控制器与用于识别身份标识的标识识别模块相连，标识识别模块通过识别角度调节机构安装于芯片拾取机构上；本发明提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的不能确保测试装置的工作状态、无法对待测芯片进行测试流程的有效监管、无法确定待测芯片是否与测试装置匹配的缺陷。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112180240 A (43)申请公布日 2021.01.05 (21)申请号 202011091417.5 (22)申请日 2020.10.13 (71)申请人合肥泽延微电子有限公司