测定麻杏石甘颗粒中甘草和苦杏仁的薄层鉴别检测方法.pdfVIP

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2023-05-19 发布于北京
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测定麻杏石甘颗粒中甘草和苦杏仁的薄层鉴别检测方法.pdf

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本发明公开了测定麻杏石甘颗粒中甘草和苦杏仁的薄层鉴别检测方法，通过ADS17大孔树脂对样品进行前处理，去除杂质，达到同时检测甘草和苦杏仁的目的。本发明方法中用ADS‑17树脂柱对样品进行吸附、洗脱，除去杂质，纯化目标成分，可同时对甘草和苦杏仁进行鉴别试验，达到一标两测的效果，既填补了麻杏石甘颗粒的国家标准中未收录苦杏仁薄层鉴别的空白，同时达到了一标两测，简化检测过程的目的；一标两测方法操作便捷可靠、稳定可行、专属性良好、重现性良好。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114878739 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210656900.6 G01N 30/06 (2006.01) (22)申请日 2022.06.