磁性样片气隙附近磁通分布测量装置.pdfVIP

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2023-05-19 发布于北京
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磁性样片气隙附近磁通分布测量装置.pdf

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本发明涉及磁性样片磁通测量技术领域，具体公开了一种磁性样片气隙附近磁通分布的测量装置。该装置包括：承载机构；第一方向调节机构，连接于承载机构，用于在第一方向上调节及固定第一待测样片和第二待测样片的位置；第二方向调节机构，连接于承载机构，用于在第二方向上调节第一待测样片和第二待测样片的位置，进而调节第一待测样片和第二待测样片之间的间距；安装有探针的探针调节机构，探针调节机构连接于承载机构。本发明在第一方向和第二方向上调节第一待测样片和第二待测样片的位置，对不同气隙长度下的磁通分布情况进行测量，探针

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114879099 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210169087.X (22)申请日 2022.02.23 (71)申请人北京交通大学地址 100044