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本发明公开了一种多个nandFlash存储芯片同步高温测试装置，包括壳体组件；活动设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件侧边的升降组件，其带动载具上的多个nandFlash存储芯片在纵向运动与测试控制组件接触电气连接；固定设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件正面的温控组件、按键组件和指示灯组件；固定设置在所述壳体组件中的多个风扇组件，其对所述壳体组件中的温度进行调节。本发明通过升降组件带动多个nandFlash存储芯片与测试控制组件电气连接，实现对多个nandFlash存储芯片高温RD
(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116013399 A (43)申请公布日 2023.04.25 (21)申请号 202310030929.8 (22)申请日 2023.01.10 (71)申请人 深圳市迈德迩半导体有限公司 地址
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