一种光学元件激光损伤测试设备及方法.pdfVIP

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2023-05-15 发布于四川
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一种光学元件激光损伤测试设备及方法.pdf

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本发明提供一种光学元件激光损伤测试设备及方法，涉及光学元件激光损伤研究领域。光学元件激光损伤测试设备包括施力装置、测量装置、计算模块和损伤测试装置。通过施力装置向待测样品施加应力，使待测样品均匀地变形后，待测样品表面产生应力均匀分布的区域。测量装置由此能够方便、准确地测量出待测样品的最大形变量，进而由计算模块定量计算出待测样品上的最大应力，并在此基础上有损伤测试装置开展损伤测试实验，测试出待测样品在该最大应力下的损伤阈值和损伤增长阈值。调整应力的大小进行多次测试，即可模拟光学元件在使用过程中受到

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114739635 A (43)申请公布日 2022.07.12 (21)申请号 202210110747.7 (22)申请日 2022.01.29 (71)申请人中国工程物理研究院激光聚变研究