存储器误码率测试系统及其测试方法.pdfVIP

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2023-05-15 发布于北京
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本公开实施例涉及半导体测试领域，提供一种存储器误码率测试系统及其测试方法，存储器包括存储单元，测试系统包括：控制单元，被配置为向存储单元发送控制命令；测试单元，被配置为：控制控制单元向存储单元发送控制命令，且测试单元向存储单元发送多位数据，其中，存储单元基于控制命令按照预设顺序存储多位数据，测试单元按照预设顺序从存储单元中读取多位数据；测试单元还用于将多位数据在预设顺序中处于相同位置的数据作为目标数据，判断存储至存储单元中的目标数据与从存储单元中读取的目标数据是否相同，以及结合多位数据的总位数，

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114708902 A (43)申请公布日 2022.07.05 (21)申请号 202210451533.6 (22)申请日 2022.04.26 (71)申请人长鑫存储技术有限公司地址 230