一种计数方法以及计数装置.pdfVIP

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2023-05-14 发布于北京
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一种计数方法以及计数装置.pdf

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本发明提供了一种计数方法及计数装置，适用于计数集成电路的阶层数。计数方法包括在图形使用者界面上点选集成电路的起始线段；判断起始线段是否为浮接；当判断起始线段耦接至第一装置时，将第一装置存储于装置寄存器；将阶层数加一作为与第一装置对应的第一阶层数；将除了起始线段以外的第一装置耦接的所有线段，存储于第一耦接寄存器；从第一耦接寄存器中选择第一线段；判断第一线段是否为浮接；以及当判断第一线段并非浮接时，将第一阶层数在图形使用者界面上显示于第一线段上。本发明提出的计数方法以及计数装置能够计数信号路径上所经

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114692531 A (43)申请公布日 2022.07.01 (21)申请号 202011595854.0 (22)申请日 2020.12.29 (71)申请人华邦电子股份有限公司地址中国台