类单晶晶体品质评估方法及系统.pdfVIP

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2023-05-11 发布于北京
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类单晶晶体品质评估方法及系统.pdf

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本发明公开了一种类单晶晶体品质评估方法及系统，该方法包括：获取类单晶晶体开方后得到的多个晶体块的头料和尾料；对获取到的多个头料和多个尾料的横截面分别进行PL检测；将多个头料和多个尾料对应的PL检测结果按照预设方向进行原位置拼接，对应得到晶体块的头部检测结果和尾部检测结果；根据头部检测结果和尾部检测结果对类单晶晶体品质进行评估。本发明采用晶体块头部位置和尾部位置的横截面的检测结果来评估类单晶晶体的品质，从而能够准确、高效地表征表征类单晶晶体的品质，并有效规避掉对籽晶尺寸的依赖。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114577757 A (43)申请公布日 2022.06.03 (21)申请号 202011292055.6 (22)申请日 2020.11.18 (71)申请人苏州阿特斯阳光电力科技有限公司地址