一种半导体器件驱动电路的电磁兼容综合测试系统和方法.pdfVIP

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2023-05-10 发布于北京
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一种半导体器件驱动电路的电磁兼容综合测试系统和方法.pdf

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本发明提供了一种半导体器件驱动电路的电磁兼容综合测试系统和方法，系统包括电磁骚扰模块、探针模块、示波器模块、上位机模块和测试管理模块，其中，测试管理模块，用于设置保护阈值和测量坐标，还用于对测量结果进行统计和展示；电磁骚扰模块，用于给驱动板施加电磁骚扰；探针模块，用于探针根据设置好的测量坐标进行移动，定位测量点，自动测量半导体器件驱动板上的电量信号；示波器模块，用于接收测量的电量信号，并显示结果；上位机模块，用于对电量信号进行检测和判断。本发明通过可以对功率半导体器件驱动电路上的特定电信号进行采

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114509622 A (43)申请公布日 2022.05.17 (21)申请号 202111619427.6 (22)申请日 2021.12.27 (71)申请人清华大学地址 100084 北京