内存测试方法、装置、计算机设备和存储介质.pdfVIP

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2023-05-09 发布于北京
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内存测试方法、装置、计算机设备和存储介质.pdf

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本申请涉及一种内存测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：根据复制指令，将内存测试程序复制到被测试机的目标目录下；通过登录被测试机的操作系统，运行内存测试程序，基于内存测试程序，开启内存加热装置的电源端口，控制内存加热装置对内存设备进行加热；运行温度监控程序，监控被测试机在内存加热装置的加热情况下运行的工作温度；当工作温度到达预设温度阈值时，检测被测试机的系统事件日志中是否存在温度告警日志，并根据温度告警日志检测结果，生成内存测试报告。采用本方法，提高内存设备温度测试

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114490200 A (43)申请公布日 2022.05.13 (21)申请号 202111552305.X (22)申请日 2021.12.17 (71)申请人宁畅信息产业（北京）有限公司地址