无接触光学测试接口.pdfVIP

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2023-05-09 发布于北京
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本申请公开了一种无接触光学测试接口。测试设备的连接接口包括光学测试套管，该光学测试套管被构造成产生在测试路径(例如，光学光纤或光学波导)与由要测试的光学连接器的标准套管连接接口端接的光纤之间的有意的气隙。一些类型的测试套管具有带有非标准角度的端面，其干涉与标准套管连接接口的接触匹配。其他类型的测试套管具有带有一个或多个突起的端面，其干涉与标准套管连接接口的接触匹配。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114488412 A (43)申请公布日 2022.05.13 (21)申请号 202011265229.X (22)申请日 2020.11.13 (71)申请人康普技术有限责任公司地址美国北