一种射频拉远单元的测试系统及方法.pdfVIP

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2023-05-09 发布于北京
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一种射频拉远单元的测试系统及方法.pdf

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本发明揭示了一种射频拉远单元的测试系统及方法，系统包括测试信号输入单元、待测射频拉远单元和测试信号分析单元，测试信号输入单元向射频拉远单元的上行链路中输入测试信号，上行链路对测试信号处理后输入至射频拉远单元的数字信号处理模块中，数字信号处理模块将测试信号在内部数字环回后输出至射频拉远单元的下行链路中，下行链路将测试信号处理后输送至测试信号分析单元中，测试信号分析单元根据测试信号获取射频拉远单元的技术指标。本发明通过将测试信号在数字信号处理模块中进行数字环回，无需使用基带处理单元便可实现对射频拉远

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114499708 A (43)申请公布日 2022.05.13 (21)申请号 202011162651.2 (22)申请日 2020.10.27 (71)申请人罗森伯格技术有限公司地址 215