标准单元放通率测试分类方法、装置、设备、程序及介质.pdfVIP

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2023-05-06 发布于北京
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标准单元放通率测试分类方法、装置、设备、程序及介质.pdf

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本公开的实施例提供了标准单元放通率测试分类方法、装置、设备、计算机程序产品和可读存储介质。本公开的实施例所提供的方法包括获取布局规划图，所述布局规划图包括多个预先布置的布局块；获取待测试标准单元列表，所述待测试标准单元列表中包括多个待测试标准单元；对于所述待测试标准单元列表中的每个所述待测试标准单元，确定其在所述布局规划图中的放通率；以及根据所确定的每个所述待测试标准单元的放通率，对所述多个待测试标准单元进行分类，从而快速筛选出与芯片布局设计最匹配的标准单元，便于对匹配性差的标准单元进行优化，提

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114358174 A (43)申请公布日 2022.04.15 (21)申请号 202111665060.1 (22)申请日 2021.12.31 (71)申请人海光信息技术股份有限公司