基于STIL技术的芯片自动测试方法、系统及装置.pdfVIP

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2023-05-06 发布于北京
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基于STIL技术的芯片自动测试方法、系统及装置.pdf

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本发明公开了一种基于STIL技术的芯片自动测试方法、系统及装置，所述方法包括：若接收到数据加载指令，获取待测数据并解析，生成基于STIL标准的第一测试数据；对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据；若接收到测试执行指令，根据所述第二测试数据进行测试，得到测试结果；若接收到数据分析指令，对所述测试结果进行处理，生成基于STDF标准的第三测试数据。本发明可实现芯片测试统一标准。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114325330 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111651110.0 (22)申请日 2021.12.30 (71)申请人北京航天测控技术有限公司