芯片测试方法及其装置.pdfVIP

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2023-05-06 发布于北京
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芯片测试方法及其装置.pdf

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本申请提供了一种存储器芯片的测试方法，其中被测试的存储器芯片具有对应数据通道的数据输入/输出端口和芯片使能端口，测试方法包括：从数据输入/输出端口接收来自测试仪的模式编码信号，模式编码信号包括用于控制芯片使能端口的第一编码信息；以及在测试的过程中基于第一编码信息控制芯片使能端口。本申请的测试方法通过减少单个存储器芯片占用探针的数量来提高测试仪的测试效率，在一定程度上提高了测试仪并行测试芯片的能力，减少了芯片测试的时间，提高了测试效率，降低了生产成本。同时，使用更少的探针进行芯片测试可在一定程度上

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114360629 A (43)申请公布日 2022.04.15 (21)申请号 202111632356.3 (22)申请日 2021.12.29 (71)申请人长江存储科技有限责任公司