折射率测量装置及测量方法.pdfVIP

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2023-05-06 发布于北京
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折射率测量装置及测量方法.pdf

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本申请涉及一种折射率测量装置及方法，激光出射装置出射测量光和探测光，测量光经过光纤环形器进入双光路差动补偿装置，经过分光、差分移频以及光纤光栅的作用形成补偿后的测量光。补偿后的测量光经过光纤环形器回到激光出射装置进行调制形成调制后的探测光，数据处理装置根据调制后的探测光确定折射率变化。本申请采用光纤环形器与双光路差动补偿装置使得补偿后的测量光回到激光发生装置发生激光移频回馈效应。激光移频回馈效应具有高灵敏度特性，可以放大光纤光栅带来的光强信号变化，从而提高折射率测量装置的灵敏度。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114324240 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111678234.8 (22)申请日 2021.12.31 (71)申请人清华大学地址 10