一种快速统计接口缺陷率、估算开发质量的方法.pdfVIP

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2023-05-06 发布于北京
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一种快速统计接口缺陷率、估算开发质量的方法.pdf

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本发明公开一种快速统计接口缺陷率、估算开发质量的方法。本发明通过响应拦截器获取各接口的执行失败次数、执行总次数，并计算出缺陷率，将获得的数据保存到localstorage中，便于在系统提测时取得所有接口在大量执行下的缺陷率，从而得出各个接口的开发质量，满足软件开发过程中的开发质量评估需求，提高开发质量评估的真实性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114328195 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111538629.8 (22)申请日 2021.12.15 (71)申请人深圳前海环融联易信息科技服务有