芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备.pdfVIP

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2023-05-04 发布于四川
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芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备.pdf

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本申请涉及一种芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备，属于集成电路技术领域。该芯片测试模式的配置方法包括：获取用户输入的用于对SOC芯片的指定测试模式进行测试的控制指令；将所述控制指令发送给所述SOC芯片，以触发所述SOC芯片运行所述控制指令对应的预设代码，以对所述SOC芯片中的寄存器相关参数进行配置，以使所述SOC芯片进入所述指定测试模式，其中，所述预设代码中包含有该指定测试模式下寄存器的配置参数。该方法不需要测试工程师理解用于配置寄存器的各串口协议，也不要了解具体寄存器如何配置，

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114253784 A (43)申请公布日 2022.03.29 (21)申请号 202111567074.X (22)申请日 2021.12.20 (71)申请人芯原