一种基于TOFD技术的精准扫查方法.pdfVIP

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2023-04-23 发布于四川
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一种基于TOFD技术的精准扫查方法.pdf

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本发明公开了一种基于TOFD技术的精准扫查方法，其特征在于,包括以下步骤：S1：测量距离检测面的深度参数Z；S2：测量沿扫查线的位置参数X；S3：测量横向距离参数Y；S4：盲区的误差扫查，在非平行扫查时，需要确定扫查的起始点和扫查的基准线，所述基准线也就是在被检测表面作一条平行于焊缝的线，在扫查过程中始终保持探头的入射点到基准线的距离保持不变本发明的有益效果：通过测量探头中心距（PCS）以及样品厚度，并在扫查前将这些数值输入文件头中，再利用B扫或D扫对样品进行扫查，根据信号波的到达时间，图像中每

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113960178 A (43)申请公布日 2022.01.21 (21)申请号 202111225932.2 (22)申请日 2021.10.21 (71)申请人南