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溶液表面张力及吸附分子横截面积的测定 溶液表面张力(Surface tension)及吸附分子横截面积(Molecular area of adsorption)的测定，是衡量溶液系统的稳定性的重要方法。它为研究分子之间的相互作用及溶液的聚集结构以及离子从液体表面进入溶液的过程提供了重要的信息。 近年来，利用静电力珠板法( Electrophoretic Drop Profile Analysis ，EDP)来测定表面张力及吸附分子横截面积引起了人们的广泛关注。 EDP法是一种非定位片段型仪器，是由金属框架构成，在一侧的框架的底部装有活动的截流移动臂，称为“介质柱”。它可以用来分析包括液体、气体和凝胶 in the sample。在此方法中，用磁控表面张力法（Magnetic Drop Profile Analysis，MDPCA）来测定溶液表面张力。 MDPCA结合了EDP和磁珠法（Magnetic Particle Profiling，MPCP），可以有效测量“截流移动臂”不动的溶液表面张力。MDPCA允许有条件性地测量液体表面张力，通过活动截流移动臂，计算差值表面张力，即减去表面张力液体被排除时的表面张力，得到的表面张力反映了吸附分子横截面积。 同时，也可以用多种方法来测量溶液表面张力及吸附分子横截面积。例如，可以利用弯曲波谱分析（Curve Spectrum Analysis）测量表面张力；可以利用原子力显微镜（Atomic Force Microscope）测量吸附分子横截面积等。这些方法，除了可以测量溶液表面张力及其附近分子横截面积外，还能用来分析溶液中的特定分子、离子及其分子团在表面及溶液体系中的结构和作用及机制提供重要信息。 溶液表面张力及吸附分子横截面积的测定是评价溶液系统稳定性非常重要的方法，近年来，静电力珠板法(Electrophoretic Drop Profile Analysis，EDP)已被广泛应用。它可以用来测量溶液表面张力及吸附分子横截面积，分析包括液体、气体和凝胶在内的材料表面的结构及电荷分布，及溶液中表面离子的聚集结构。同时，还可以用多种方法测量溶液表面张力及吸附分子横截面积，如弯曲波谱分析、原子力显微镜等，提供更多的信息供测定分析。