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pn结正向伏安特性随温度变化的实验设计 一、实验目的 主要研究pn结正向伏安特性随温度变化的规律,建立模型,以实现某一特定温度下pn结正向伏安特性的准确预测。 二、原理 pn结正向伏安特性越大,元件对环境温度也越敏感。当温度变化时,会影响绝缘介质中电子和空穴的生存期,从而影响pn结正向伏安特性。温度上升产生的热量会使绝缘介质中的电子和空穴的衰减速率增加,最终降低pn结正向伏安特性。因此,温度对pn结正向伏安特性有很大的影响,较低的温度下pn结正向伏安特性较大。 三、实验设计 实验的设计原则: (1)温度:测试pn结正向伏安特性随温度变化的规律,温度范围应涵盖常温~热温段; (2)变量:在每种温度下,改变正向电压输入幅值和频率,来获取多组在不同温度下的伏安特性曲线; (3)测量模型:通过量子化学计算模型,计算pn结正向伏安特性极限,进而拟合出随温度变化的pn结正向伏安特性模型; (4)测量范围:除温度外,需测量的数据还包括正向伏安特性图中的电流、电压波动幅值,当然测试参数也需要准确无误。 四、实验安排 (2)实验设备搭建:结合实际需求,确定pn结的形状并绘制,以及需要使用的元件等,完成实验设备的搭建; (3)实验步骤设计:搭建实验设备后,使用测量仪器,根据实验设计原则,测量多组温度下的正向伏安特性图,绘制不同温度下的伏安曲线; (4)数据处理:收集并分析实验数据,绘制不同温度下的pn结正向伏安特性曲线,对曲线进行拟合,建立pn结正向伏安特性随温度变化的模型;

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