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2023-01-17 发布于北京
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本实用新型提供了一种测距装置，该测距装置包括底座、第一基板、第二基板、光学结构和连接结构；第一基板用于设置光发射器；第二基板用于设置光接收器；光学结构用于将光发射器发射的第一光脉冲导引至探测物，并将探测物反射的至少部分第二光脉冲导引至光接收器；连接结构设于底座上；连接结构包括多个支架，第一基板、第二基板和光学结构分别设于多个支架上；其中，多个支架各自分离地设置在底座上，以减小测距装置的量程和测量精度受热变形的影响。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212275966 U (45)授权公告日 2021.01.01 (21)申请号 201922495017.X (22)申请日 2019.12.31 (73)专利权人深圳市大疆创新科技有限公司