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定义不受控信号 与过程均值相关的链通常表明：过程的均值已变化——并可能仍然在变化。测量系统已变化（漂移、偏倚、灵敏度等） * 第九十三页，共一百二十四页。 定义不受控信号 明显的非随机图形：应依正态分布来判定图形，正常应是有2/3的点落于中间1/3的区域。 UCL CL LCL * 第九十四页，共一百二十四页。 定义不受控信号 如果明显大于2/3的点落于中间1/3的区域。则需调查：控制限或描点已计算错误或描错。过程或取样方法出现分层：每个子组系统地包含了来自不同过程均值的两个或多个过程的测量值（如，零件来自几个型芯轴，抽样时，每个型芯轴抽取一件）。数据已经过编排（极差远离均值的子组被更改或剔除） * 第九十五页，共一百二十四页。 定义不受控信号 如果明显小于2/3的点落于中间1/3的区域。则需调查：控制限或描点已计算错误或描错。过程或取样方法导致连续的子组中包含来自变差显著不同的两个基本点或多个过程流的测量值（如，输入材料批次混淆） 如果有几个过程流存在，应对它们进行识别并分别跟踪。 * 第九十六页，共一百二十四页。 定义不受控信号 特殊原因识别准则 * 第九十七页，共一百二十四页。 各类控制图计算公式 见SPC第二版资料 * 第九十八页，共一百二十四页。 第三章认识计量型数据的过程能力和过程特性 * 第九十九页，共一百二十四页。 过程术语的定义 变差(variation)过程的单个输出之间所不可避免的差异。变差的来源：普通原因和特殊原因 固有变差(inherent variation)仅由普通原因引起的过程变差 * 第一百页，共一百二十四页。 过程术语的定义 子组内变差( within-subgroup variation)仅由于子组内的变差所造成的变差。若过程受控，可由 /d2或 /c2来估计。 σ c S R * 第一百零一页，共一百二十四页。 过程术语的定义 子组间变差(between-subgroup variation)由于不同子组间的变差所造成的变差过程受控，变差应为零。 * 第一百零二页，共一百二十四页。 过程术语的定义 总过程变差( total process variation)由子组内变差和子组之间的变差共同造成的变差。若过程受控，变差来自普通原因和特殊原因。可由样本的标准差S来估计。 σ p * 第一百零三页，共一百二十四页。 过程术语的定义 过程能力仅使用于统计稳定的过程，是过程固有变差的 6 范围，式中 通常用 /d2或 /c2 来估计。 过程性能过程总变差的6σ范围，式中 通常用样本的标准差S来估计。 R S 如果过程统计受控，过程能力将非常接近过程性能。当两者的6 间存在较大差别时表示有特殊原因存在。 * 第一百零四页，共一百二十四页。 可预测过程的过程测量——双边公差 Cp Cp是能力指数。它把过程能力与由公差表示的最大可允许的变差进行比较。该指数反映了过程是否能够很好地满足变化要求。 Cp是不受过程位置的影响，这个指数只针对双边公差而计算的。 * 第一百零五页，共一百二十四页。 可预测过程的过程测量——双边公差 Cpk这是能力指数。它考虑了过程的位置和能力。双边公差， Cpk,Cp应该一起进行评价和分析. * 第一百零六页，共一百二十四页。 可预测过程的过程测量——双边公差 Pp性能指数。反映了过程是否能够很好地满足变化要求.不受过程位置影响. * 第一百零七页，共一百二十四页。 可预测过程的过程测量——双边公差 Ppk性能指数。它考虑了过程的位置和能力。双边公差， * 第一百零八页，共一百二十四页。 可预测过程的过程测量——双边公差 * 第一百零九页，共一百二十四页。 可预测过程的过程测量——单边公差 Cp是能力指数。它把过程能力与由公差表示的最大可允许的变差进行比较。该指数对于单边公差没有意义。 如果产品具有物理极限,则Cp就可以用物理极限作为下限的代替值来计算.但这个数值与Cpk没有处在双边公差情况下的那种相同的关系。 * 第一百一十页，共一百二十四页。 可预测过程的过程测量——单边公差 Cpk这是能力指数。它考虑了过程的位置和能力。单边公差，Cpk可以小于、等于或大于Cp。Cpk直接与过程所产生的不合格品比例有关。等于CPU或CPL。取决于公差是USL或LSL. * 第一百一十一页，共一百二十四页。 可预测过程的过程测量——单边公差 Pp性能指数。它把过程性能与由公差表示的最大可允许的变差进行比较。若产品具有物理极限，Pp就可以用物理极限作为下限的替代值来计算。但这个数值与Ppk没有处在双边公差情况下的那种相同的关系。 * 第一百一十二页，共一百二十四页