AEC_Q100-011D Charged Device Model - CDM - Electrostatic Discharge Test 静电放电测试.pdf

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2022-05-20 发布于广东
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AEC_Q100-011D Charged Device Model - CDM - Electrostatic Discharge Test 静电放电测试.pdf

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AEC - Q100-011 Rev-D January 29, 2019 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 11 AEC - Q100-011 Rev-D CHARGED DEVICE MODEL (CDM) ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) TEST AEC - Q100-011 Rev-D January 29, 2019 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a complex technology brings together experience and skills from many sources. The Automotive Electronics Council would especially like to recognize the following significant contributors to the revision of this document: Charged Device Model Sub-Committee Members: Wolfgang Reinprecht AMS Alan Righter [Sub-Committee Co-Chair] Analog Devices Mark Kelly Aptiv Reinhold Gaertner Infineon Technologies Brett Carn Intel Corporation C.K. Barlingay Microchip Nick Martinez Microchip Greg O’Sullivan Micron Melissa Uribe Micron Robert Ashton Minotaur Labs Bob Knoell NXP Semiconductors Zhongning Liang NXP Semiconductors Nick Lycoudes NXP Semiconductors Theo Smedes