01测量系统分析MSAHJG常用.pptxVIP

测量系统分析 MSA培训导师: 胡建国大家好！ 前面我们已经学习了质量管理体系需运用的部分质量管理方法和工具； 本讲我们将开始学习测量系统分析 MSA。 祝大家学习成功！目 录一 相关术语名词二 测量过程三 测量系统分析的准备四 计量型Gage R＆R研究方法五、计数型测量系统分析一 、相关术语名词标准接受的用于比较的基准用于判定接受与否的数据测量 赋值给具体事物以表示他们之间关于特殊特性的关系量具 任何用来获取测量结果的装置，经常用来特指用在车间的装置，包括用来测量合格/不合格装置测量系统 是用来对定量测量或定性评价的的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合；用来获得测量结果的整个过程。 位置变差准确度 与真实值或接受的基准值之间的接近程度偏 移 测量结果的观测平均值与基准值的差值 位置变差稳定性 某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差 线 性 量具预期工作范围内,偏移值的差值重复性幅度变差 重复性同一测评人,采用同一种仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差在既定的条件下连续的试验测量结果间的变差通常指设备变差(EV)仪器(量具)的能力或性能系统内变差 再现性不同的测评人,采用相同的仪器,测量同一零件同一特性时测量平均值的变差用以产品/制程资格认定,误差可能来自测评人、设备、时间或方法通常指测评人变差AV系统间变差基准值GRRABC 量具双性 GRR or Gage R＆R量具重复性及再现性测量系统能力，取决于使用方法，可能包括或不包括时间的影响。 测量数据的质量测量数据的质量 稳定条件下运行某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性。统计特性 偏移和方差。偏差太大或变差太大都将直接导致低质量的测量数据。 分辨率 测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。若不能测定出过程的变差，这种分辨率用于分析是不可接受的。若不能测定出特殊原因的变差，这种分辨率用于控制是不可接受的。不可接受的分辨率可通过极差图最好的显示出来。 一般过程输输操作入出 测量过程需要控制的测量分决策过程系统析二 、测量过程测量过程测量系统统计特性足够的分辨率（10：1原则）。具有统计稳定性，亦即测量系统的变差只能是普通原因而非特殊原因造成的。测量系统的变异须小于规格公差或制程变异。测量系统的统计特性可能随统计特性的变化而变化，若果真如此，测量系统变差应小于制程变差及公差带两者中较小者。 测量系统变差的产生原因仪器I标准S工件W（如零件）测量系统变差人/程序P环境E 变异构成测量值变差测量系统产品/制程变差变差测评人变差量具变差(再现性)准确度线性稳定性重复性(偏移)测量系统变差的影响所有变异源的总影响通常称为测量系统变差。对产品决策的影响第一类错误(生产者风险/假判率): 一个好的零件有时被误判为“不合格”第二类错误(消费者风险/漏判率): 一个不合格的零件有时被误判为“合格” 对过程决策的影响 将普通原因判断为特殊原因 将特殊原因判断为普通原因 测量系统变差的可能原因偏移基准的误差磨损的量具仪器测量非代表性的特性制造的仪器尺寸不对仪器没有正确校准测评人使用仪器不正确稳定性（是偏倚随时间的变化）仪器需要校正，减小校正周期正常的老化仪器维护不足仪器设计或方法问题重复性仪器需要维护；量具应重新设计以提高刚度；夹紧及检验点需要改进；存在过大的零件内变差。再现性测评人需要更好的培训如何使用量具仪器及读数；量具刻度盘上的读数不清楚；需要某种夹具帮助测评人提高使用量具的一致性；某些测量系统没有测评人，若所有的部件均由同一设备处理、固定及测量，那么再现性就为零；当使用了不同的工装，那么再现性就表现为工装间变差。量具双性/GRR线性(量具预期工作范围内,偏移值的差值)工作范围上限/下限内仪器没有正确校准磨损或损坏的基准，基准出现误差--最小或最大磨损的仪器或夹紧装置仪器质量差—设计或一致性不好仪器设计或方法缺乏稳健性应用错误的量具环境—温度、湿度、震动、清洁度分辨力对控制和分析活动的影响： 分级数目(ndc) 控制 分析只有下列条件下才可用于控制：与规范相比，过程变差较小；预期过程变差上的损失函数很平缓；过程变差主要原因导致均值偏移不能用于估算过程参数及指数；只能表明过程是否正在生产合格零件。依据过程分布可用半计量控制技术；可产生不敏感的计量控制图一般不用于估算过程参数及指数，因为它只提供粗略的估计。可用于计量控制图建议使用。一个数据分级 2-4 个数据分级 5个或更多数据分级三 测量系统分析的准备1.计划将要使用的方法 例如通过工程决策，直接观察或量具研究决定，是否测评人在校准或使用仪器时产生影响；有些测量系统的再现性可能忽略，例如按键.2.测评人数量、样品数量、及重复读数应预先确定：尺寸的关键