材料分析测试技术材料分析测试技术试卷(材料分析测试技术).docVIP

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试卷第 PAGE 1 页共 NUMPAGES 2 页 材料分析测试技术材料分析测试技术试卷(材料分析测试技术) 姓名:_____________ 年级:____________ 学号:______________ 题型 选择题 填空题 解答题 判断题 计算题 附加题 总分 得分 评卷人 得分 l12、当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( ) A.Cu; B.Fe; C.Ni; Mo。 13、当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称( ) A.短波限λ0; B.激发限λk; C.吸收限; 特征X射线 14、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生( ) A.光电子; B.二次荧光; C.俄歇电子; A+C 15、最常用的X射线衍射方法是( )。 A.劳厄法; B.粉末多法; C.周转晶体法; 德拜法。 16、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是( )。 A.正装法; B.反装法; C.偏装法; A+B。 17、测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是( )。 A.保持同步1﹕1; B.2﹕1; C.1﹕2; 1﹕0。 18、衍射仪法中的试样形状是( )。 A.丝状粉末多晶; B.块状粉末多晶; C.块状单晶; 任意形状。 19、若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是( )。 A.1000; B.10000; C.40000; 600000。 20、可以消除的像差是( )。 A.球差; B.像散; C.色差; A+B。 21、可以提高TEM的衬度的光栏是( )。 A.第二聚光镜光栏; B.物镜光栏; C.选区光栏; 其它光栏。 22、电子衍射成像时是将( )。 A.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合; B.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合; C.关闭中间镜; 关闭物镜。 23、选区光栏在TEM镜筒中的位置是( )。 A.物镜的物平面; B.物镜的像平面 C.物镜的背焦面; 物镜的前焦面。 24、单晶体电子衍射花样是( )。 A.规则的平行四边形斑点; B.同心圆环; C.晕环; 不规则斑点。 25、薄片状晶体的倒易点形状是( )。 A.尺寸很小的倒易点; B.尺寸很大的球; C.有一定长度的倒易杆; 倒易圆盘。 26、当偏离矢量SA.球面外; B.球面上; C.球面内; B+C。 27、能帮助消除180o不唯一性的复杂衍射花样是( )。 A.高阶劳厄斑; B.超结构斑点; C.二次衍射斑; 孪晶斑点 28、菊池线可以帮助( )。 A.估计样品的厚度; B.确定180o不唯一性; C.鉴别有序固溶体; 精确测定晶体取向。 29、如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是( )。 A.六方结构; B.立方结构; C.四方结构; A或B。 30、X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么? 31、分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。 32、什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”? 33、产生X射线需具备什么条件? 34、Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中? 35、特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同?某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长? 36、为什么会出现吸收限?K吸收限为什么只有一个而L吸收限有三个?当激发K系荧光Ⅹ射线时,能否伴生L系?当L系激发时能否伴生K系? 37、试简要总结由分析简单点阵到复杂点阵衍射强度的整个思路和要点。 38、试总结德拜法衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。 39、粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何?为什么?板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何? 40、同一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来其θ较高还是较低?相应的d较大还是较小?既然多晶粉末的晶

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