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2003年第5期 (第 74期) 佛 山 陶 瓷
研究与拐时
表面处理对氮化硅陶瓷力学性能的影响
张 东 方
(武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室 武汉 430070)
摘 要 采用x射线衍射应力分析的sin20法计算了si3N4陶瓷试样的残余应力,并分别测量了
表面处理前后Si3N试样的力学性能。结果表明,经平面磨削后的si3N4试样表面残余应力为拉应
力,而抛光处理可适当降低残余应力。两种方法都使试样抗弯强度降低。
关键词 残余应力,磨削,抛光,抗弯强度,si3N4
1 前 言 表 1 测试结果
氮化硅是一种重要的结构陶瓷材料,具有高比强、高比
模、耐高温、抗氧化、耐磨损以及抗热震性等优点,在工程中
有广泛的使用价值。但作为脆性材料,氮化硅陶瓷器件的力
学性能对表面应力状态分布很敏感,残余压应力会提高断
裂强度,残余拉应力则正好相反[1]。通常情况下,要对这些
陶瓷器件进行平面磨削、抛光等处理,这些处理过程必定会
影响氮化硅陶瓷器件表面应力状态及力学性能。本文用 x
射线衍射法对经表面磨削和抛光处理的氮化硅陶瓷表面残 由x射线衍射分析计算残余应力的基本方程 :
余应力进行计算,并分析了表面处理对氮化硅陶瓷力学性 一 蠢‘c。t0。·
能的影响。
+/K一 ’蠢 c。t0。 (I)
2 实 验
M= (Ⅱ)
OrS ¨l
以A1N、TiN、A12o3、Y2o3为助烧结剂,与 si 混合均匀, 则仃=K·M
气压烧结制得氮化硅陶瓷。在 Instron1195型万能材料机 式中:
上用三点抗弯法测量试样的抗弯强度 ,跨距为 24mm,加载 v—— 泊松 比
速率 0.1mm/min。并用 x射线衍射仪对氮化硅陶瓷进行衍 E—— 弹性模量
射分析,分析前,陶瓷用平面磨进行磨削(试样 1),磨削后 0o—— 所选晶面在无应力情形下的衍射角
抛光处理(试样 2),再用 sin2@方法进行测试,所选 (为人 — — 试样表面法线与所选晶面法线的夹角
射角与试样表面法线的夹角),分别为0。,15。,30。,45。。 0 —— 所选晶面实际测量的衍射角
从(Ⅱ)式可看 出20 与 sin 成线形关系,M为该直
3 结果与讨论 线斜率,直线方程可记为 20嘶=20 Msin 。设 方位
时,衍射角实测值为20,它与直线上的理想值之差为V,即
Vi=20i-20~o--Msin~X,i,根据最 /b--乘法原理,常数项 20蜘
3.1残余应力测量与数据处理
表 1为所测量的特定衍射晶面为 ~-Si3N的测试结果。 及M应满足∑V。z最小。
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12 FOSHAN CERAMICS Vo1.13No.5(Sed~No.74)
解得M=n∑(20isinz’l,)一∑sini.∑20i
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