统计控制状态变差模型与Minitab应用.pdf

统计控制状态变差模型 与Minitab应用 问题 怎样对热处理炉的零件的硬度 进行统计过程控制 统计控制状态变差模型 普通原因 普通原因指的是造成随着时间的推移具有 稳定的、且可重复的分布过程中的众多变差的 原因 当仅有普通原因时，过程“处于统计控制状 态”、“受统计控制”，或有时简称“受控” 。 普通原因表现为一个稳定系统的偶然原 因。只有变差的普通原因存在且不改变时，过 程的输出才是可以预测的。 正态分布概率 -1 σ μ +1 σ 过程处于稳定受控状态,质量特性数据 总体正态分布N µ,σ( 2 ),仅存在变差的普 通原因,随着时间的推移，过程的输出形成 σ 一个稳定的分布并可预测。 为过程内在 固分特性 单层普通原因变差 单件生产的零件，只存在零件间的变差， 统计控制状态变差模型： 1。统计控制状态时总变差为零件间的普通 原因变差 ; σ 2。统计或非统计控制状态短期连续的变差 仍为普通原因变差σ 选择子组应使得一个子组内在该单元中的各样之 间出现变差的机会小。过程的初期研究中，子组一般 由4到5件连续生产的组合，这样做的目的是每个子 组内的零件都是在很短的时间间隔内及非常相似的生 产条件下生产出来的并且相互之间不存在其他的系统 的关系。因此，每个子组内的变差主要应是普通原因 造成的。 X − R 控制图 均值控制图 CL X X σ UCL X + 3 σ X + 3 X x n σ LCL X − 3 σ X − 3 X x n 过程能力和过程性能 •过程固有变差——仅由于普通原因产生的那部分 过程变差。该变差可以从控制图上通过 ˆ R σ 来估计。也可用其它量（ˆ S ）。 d2 σ c 4 •过程总变差—— 由于普通和特殊两种原因所造成 的变差，本变差可用样本标准差S来估计。这是用 详细的控制图或过程研究中得到的所有单值读数 计算出来的。 ∑m ( x