GB/T 5201-2012带电粒子半导体探测器测量方法.pdf

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  •   |  2012-11-01 实施

GB/T 5201-2012带电粒子半导体探测器测量方法.pdf

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《GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法》

ICS27.120 F88 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT5201 2012 代替 / — GBT5201 1994 带电粒子半导体探测器测量方法 Testroceduresforsemiconductorchared articledetectors p g p ( : — IEC603331993Nuclearinstrumentation Semiconductorchared article g p — , ) detectors TestroceduresNEQ p 2012-06-29发布 2012-11-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 / — GBT5201 2012 前 言 本标准按照 / — 给出的规则起草。 GBT1.1 2009 / — 《 》, / — 本标准代替 GBT5201 1994带电粒子半导体探测器测试方法 本标准与 GBT5201 1994 ( ) , : 以下简称原标准 相比 主要技术变化如下 ———增加了前言; ——— “ ”, ; 增加了第 章 规范性引用文件 其他章的编号依次后推 2 ——— “ 、 ” “ ”, / — , 将原标准 术语 符号 改为第 章 术语和定义 并完全引用 不再另行 3 GBT4960.6 2008 编写; ——— “ ” , ; 删除了原标准 2.2符号 部分 在文中用到符号的地方予以说明 ——— “ ” ; 增

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