相变存储器规模制造技术关键基础问题研究费下载.docVIP

相变存储器规模制造技术关键基础问题研究费下载.doc

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
项目名称: 相变存储器规模制造技术关键基础问题研究 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 2010年1月-2014年8月 中国科学院 上海市科委 实现PCRAM商用化问题是本项目拟解决的关键科学问题和主要研究内容如下: 高性能PCRAM相变材料体系的研究 通过使用稳定的二元固相、电中性(符合化学计量比)、p轨道电离度、4) s–p轨道的杂化程度这四个原则快速设计出新型相变材料的相图相图中最为可能的性能优良组份RAM单元和阵列,研究某一组分相变材料的电学性能,获得器件I-V、R-V和疲劳特性等,最为核心的是与存储数据保持力相关的材料的热稳定性研究。 高密度PCRAM单元之间

文档评论(0)

金华 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档