工业电离辐射防护与安全－国家环保部－完整版.ppt

第四章 核仪器仪表及其他应用装置 了解核仪器仪表的应用概况 熟悉各类核仪器仪表的工作原理及应用 掌握核仪器仪表的安全与防护知识 核仪器仪表 密封放射源仪表 凡带有密封放射源都仪表统称为密封放射源仪表。使用都放射源大多是Ⅳ、Ⅴ类源，活度一般在107～1010Bq（毫居里级或居里级）水平 使用X射线工作的仪器仪表 关键部件是发射X射线的器件。只有在通电开机时才有X辐射 中子水分计 按测量方式 插入型 表面型 透射型 散射型 中子水分计 中子水分计的测量原理有 中子减速扩散法 中子减速透射法 中子衰减法和散射法 中子水分计 中子减速扩散法 当中子源放人待测物质后，由于源发射出的中子在该物质内被减速扩散，最后分布往中子源周围。 水分愈大，则源附近的中子通量密度愈大，从而被中子探测器记录的中子计数率愈大。 中子水分计 中子减速透射法 当快中子束透过物质层时，由于与核进行散射碰撞，部分中子被减速，部分中子被散射出物质。 透射束中的慢中子(或热中子)将随水分增大而增多。 中子水分计 中子衰减法 当中子束通过待测物质，由于散射和吸收作用，中子束强度会被减弱。减弱程度主要由物质的水分、含硼量和含氯量等决定。根据此法设计的中子水分计属于透射型。 散射法 当中子束被待测样品散射后，散射束的强度因水分不同而异，随着水分增大而增大。根据此原理设计的中子水分计叫散射计 X荧光分析仪 X荧光分析仪 工作原理： 射线照射靶物质时，通过光电相互作用，使靶原子受激，退激时，跃迁能量以特征X射线形式释放出来，称为X射线荧光。 不同元素的壳层电子受激发后，其退激时，会发射不同能量的特征X射线，它们与元素所处的物理和化学状况几乎无关。 X荧光分析仪 x荧光分析仪根据测量到特征X射线的谱峰的能量信息即可以判断元素的种类；而根据谱峰的强度就可以分析出各元素的含量。 定性分析：不同元素的荧光x射线具有各自的特定波长，因此根据荧光x射线的波长可以确定元素的组成。 定量分析：元素的荧光强度和元素的含量相关 X射线电路板检查机 X线机工作原理： 利用x射线的透射原理，x射线发生器发射出x射线穿透电路板后，在接受装置上形成影像，通过放大后在显示屏上形成的影像可以判断电路板的内部情况 X射线行李包检查系统 X射线行李包检查系统 工作原理： 一束经经过准直器的非常薄的x射线束穿过输送带上的被检物品，X射线被被检物品吸收，最后轰击安装在通道内的探测器。 探测器把X射线转变为电信号，这些很弱的电流信号被放大，并送到信号处理机箱作进一步处理。 当被检物检查时，非常薄的扇形x射线束一线一线地扫过被检物，相当于对被检物进行切片。图象采集系统收集并存储每一扫描线的图象信息，而得到了被检物的整个图像信息 * * 核子湿度密度仪 测量密度时，137Cs源发出γ射线进入被测材料，穿过被测材料的γ射线被装在 仪器内的探测器(G-M计数管)接收并给出计数。 如果材料的密度较低，穿过材料的γ射线就较强，探测器 在单位时间内的计数就较高，反之，如果材料的密度较高，高密度材料对γ射线的屏蔽较强，探测器在单位时间内的计数就较低 核子湿度密度仪 测量水分时，中子源发射的中子进入被测材料，高能中子与被测材料水分中的氢原子相互作用而降低能量成为慢中子，慢中子被仪器内的探测器接收。 被测材料含水量大，慢中子数就多，探测器的计数就高，反之就低。然后，微处理机把接收到的计数通过数据处理，得到被测材料的水分量。 静电消除器 静电消除器不断地放射出的射线能使介质(空气)电离，这样就在静电的表面与消除器之间形成了通路，使积累的静电泄漏或中和，从而完成静电消除工作。 大多采用β放射源147Pm(钷pǒ) 90Sr、90Y(钇Yǐ)、204Ti等放射性同位素生产静电消除器。也有使用α粒子作为静电消除器放射源的，虽然它的射程短，但发射的局部能量较高 静电消除器 在装有静电消除器的区域工作的人员不会受到有影响的辐射照射，但是维修静电消除器的工作人员在短时间内会接受某一种程度的受照剂量。 所以，维修、安装、保管静电消除器的人员要佩戴个人剂量计，并定期监测和建立个人剂量档案 X射线电路板检查机 X线机工作原理： 利用x射线的透射原理，x射线发生器发射出x射线穿透电路板后，在接受装置上形成影像，通过放大后在显示屏上形成的影像可以判断电路板的内部情况 集装箱检查系统 含密封源仪表的安全防护 含密封源仪表使用的放射源活度远远小于大型辐照装置的源强，它们一般都在107～1010Bq(毫居里级或居里级)水平 特点是数量大、应用范围广、流动性强、接触人员多、工作场所和条件千变万化。 安全防护易被忽视，工作人员的防护意识较差，容易发生丢源事故，或造成射线泄漏污染和人员受射线误照事件。 使用