电子产品震动测试方案汇总.docVIP

更改记录: 版本 日期 更改说明 编写者 00 April 10, 2012 由DQE-QWI-P0001-056转成CU-QE-QWI-P0001-0019 分发： ( ) PRO-OP2 ( ) QAD-OP2 ( ) PEG-OP2 ( ) QMD-OP1 ( ) DC ( ) ME1-OP1 ( ) ME2-OP1 ( ) PMC ( ) TEG-OP1 ( R ) ENG ( ) STO ( ) SHP ( ) IQC-OP1 ( ) PUR ( 1 ) Other ( 1 ) QED-OP1 ( ) PRO-OP1 ( ) SMT ( ) T/U ( ) Repair ( R ) PEG-OP1 ( ) QAD-OP1 目的 对我厂电子产品的震动测试制定各种标准。 适用范围 我厂所有产品的振动测试，例如：主板，显卡，U盘，SD/CF卡，MP4,笔记本等。 参考文件 电磁式振动试验机使用说明书 SUPER振动控制系统简体中文使用手册 Standard ASTM D4728 2006 振动设备 型号：EV106电磁式振动试验系统 系统构成 4.4.1 D类功率放大器 SA5K 1台 4.4.2 电磁式激振发生器 VG600-25 1台 4.4.3 冷却风机（含金属风管1根和卡箍两件） BL600 1台 4.4.4 振动控制器（正弦sine随机random） 频率(Hz) 左斜率(dB/Oct) 加速度((g)2/Hz) 右斜率(dB/Oct) 20 3 80 0.04 350 0.04 2000 -3 表格二 振动谱图如图五所示： 图五 5.2.3 主板和显卡的固定如图六和图七所示。 5.2.4 振动的时间 振动的时间一般为2分钟。（也可根据特殊情况而定） 图六 图七 USB/SD card振动测试 5.3.1 主要是测试new model或者是客户要求测试 5.3.2 振动标准 可按照IEC 512-4-6d的测试振动标准，详细参数如下： 20 m/s2(2G) peak amplitude, 10 Hz to 2000 Hz 振动的谱图如图八所示。 图八 振动的时间和方向 振动方向：X,Y,Z轴三个方向 振动时间：扫描每个周期为5分钟，每个面10个周期，三个面需要的时间为150分钟 产品的固定可参考图九所示。 图九 CF Card振动测试 5.4.1主要是测试new model或者是客户要求测试 振动标准 可按照Mil Std 202, method 204 EIA TP 364-28 IEC 512 4-6d振动标准，详细参数如下： 14.7 m/s2 peak amplitude, 10 to 2000 Hz. 振动的谱图如图十所示。 图十 振动的时间和方向 振动方向：X,Y,Z轴三个方向 振动时间：扫描每个周期为20分钟，每个面12个周期，三个面需要的时间为12个小时。 产品的固定可参考图九所示。 注明：所有产品的振动测试标准可以因特殊情况或者客户的要求而改变。 我厂电子产品的振动测试 DOC No. REV. PAGE : CU-QE-QWI-P0001-0019 : 00 : 8 OF 8 注: 此页工作规程,若没有红色WORK INSTRUCTION AUTHORIZED COPY印或印有红色OBSOLETE|印章, 则不能生效 QE WORK INSTRUCTION DOC NO.: CU-QE-QWI-P0001-0019 QE 工 作 指 示 REV.: 00 PAGE: 1 OF 8 项目: