XX公司质量部-MSA简介-测量系统分析.ppt

* APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 由于过程变差比公差大，测量系统与公差进行比较而不是同过程变差进行比较是适当的。 * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 这里上下限相对于计算得分不对称的原因是因为，这里每次的判断是服从一个二项分布的，而二项分布是不对称的。上下限的计算可以利用计算机来计算得到。（如minitab） * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 要想避免出现测量系统判断错误的情况，提高评价人的水平是一方面的，但更重要的是，案例中的制程能力太差，使得出现在模糊地带的零件数太多，造成评价人误判的几率增大。因此，提高制程能力也是组织必须要考虑改进的，如果ppk，cpk能达到1.33以上，那么出现在模糊区域的零件几乎没有，这样评价人可以很容易作出正确的判断，自然评价人也就可以接受了。就好像如果市面上流通的假币如果很多，难道我们需要每个都要成为鉴币专家么？ * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 破坏型测量系统的样件在测量时遭到破坏，所以研究的成本很高，可能无法取得相当数量的样本。 两两批次之间的极差要能代表过程的变差。 * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 由于同一批次的2个样本差异可以忽略不计，且用同样的方法（人员与量具）测取数据，因此我们可以认为两个测量数据的差异主要是由测量误差造成。做均值－极差控制图，要求数据都要受控在继续研究。 * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 Excel 数据表举例 利用EXCEL表格可以将上面的一系列的计算过程简化 8.计数型量具的分析方法 破坏型测量系统研究 9.破坏型量具分析法简介 破坏型MSA的特点 样本无法重复测量 取样上有特殊的要求 具有标准样本，这些样本不会随时间而变化 标准样本所服从的正态分布的μ和σ已知 从同一批次中选取的标准样本间差异要非常小 基本方法和思路与非破坏型是相同的 9.破坏型量具分析法简介 破坏型MSA的分类 计量型 偏倚分析 RR分析 稳定性分析 9.破坏型量具分析法简介 稳定性研究 样本的选取满足 从同一批次中抽取标准样本，标准样本间的差异非常小，小到与过程变差相比可以忽略不计 标准样本不会随时间而变化 除标准样本的选择外，其他基本方法和思路与非破坏型的稳定性研究是相同的 9.破坏型量具分析法简介 偏倚的研究－1 选取样本和测量人员 测量标准样本 计算均值和标准差 计算偏倚和t统计量 判定 记录保存 选取30个左右标准样本，标准样本必须满足要求，即标准样本所服从的正态分布的μ和σ已知 挑选现场实际测量的一个人 9.破坏型量具分析法简介 偏倚的研究－1 选取样本和测量人员 测量标准样本 计算均值和标准差 计算偏倚和t统计量 判定 记录保存 测量每个标准样本，记录下数据 9.破坏型量具分析法简介 偏倚的研究－1 选取样本和测量人员 测量标准样本 计算均值和标准差 计算偏倚和t统计量 判定 记录保存 计算测量的标准样本值的均值和标准差 9.破坏型量具分析法简介 偏倚的研究－1 选取样本和测量人员 测量标准样本 计算均值和标准差 计算偏倚和t统计量 判定 记录保存 偏倚＝测量平均值－μ t统计量 9.破坏型量具分析法简介 偏倚的研究－1 选取样本和测量人员 测量标准样本 计算均值和标准差 计算偏倚和t统计量 判定 记录保存 查表得 若t≥2.04，则存在偏倚问题 若t＜2.04，则偏倚可接受 9.破坏型量具分析法简介 偏倚的研究－1 选取样本和测量人员 测量标准样本 计算均值和标准差 计算偏倚和t统计量 判定 记录保存 破坏型偏倚研究的记录要保存下来，可以和PPAP档案存放在一起，以有效证明公司的测量仪器其测量能力是足够的。 9.破坏型量具分析法简介 例题 今有一台硬度计，其配予了一片的标准片，但由于硬度计是破坏性试验，所以被测过的地方是不能再测的。在购买标准硬度片时，厂商提供的数据：μ＝75，σ＝1。现测量这30个标准样本数据如下，试问有无偏倚问题。 75.6 74.3 76.3 77.7 77.6 78.3 73.2 75.7 77.4 74.6 75.1 73.8 73.6 74.7 75.0 73.2 75.3 75.5 76.2 75.5 75.6 75.5 77.7