XAFS数据分析ATHENA.PDF

XAFS数据分析：ATHENA 闫文盛 ywsh2000@ 中国科大 国家同步辐射实验室 2013年11月08 日 上海 1 基本内容 ATHENA 简介 EXAFS数据处理 在ATHENA 的作图 EXAFS数据预处理 简单应用 软件演示 2 XAFS技术特点  电学 元素分辨性  光学 催化剂 激光微观结构敏感性  磁学 激光 样品无特殊要求 信息存储 自旋电 太阳能 子学 微观结构 电池  尺寸依赖 性 荧光粉  形貌依赖 生物成像 技术 性 光电 3 吸收谱的区域划分 Pre-edge XANES EXAFS -200 -20 30 1000 边前区（Pre-edge ）： -200至-20 ，本底吸收 ) s t 近边区（XANES ）：- i n U 20至30，X射线吸收近 b. 边结构 r A ( E x 0 远边区（EXAFS ）：- µ 20至30，扩展X射线吸 收精细结构 9000 9500 10000 Energy ( eV ) 4 数据处理的目的