UT技术总结.docVIP

  1. 1、有哪些信誉好的足球投注网站(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
UT技术总结

无损检测工作技术总结 (UT) -----*** *** 2009年3月2日 超声波检测工作技术总结 本人于20***年从***毕业后,进入***金属实验室从事无损检测工作。先后参加了***2×600MW电厂和***2×660MW电厂的无损检测技术管理工作。编制了项目作业指导书和制定工艺卡。目前在***公司工作,参与了西气东输管线检测,***电厂,石***电厂的检修工作,为***从事第三方检测工作。 2005年参加上海市质量监督局无损检测二级培训,先后取得了射线二级,超声波二级,磁粉二级和渗透二级证书。 参加工作以来,我努力从课本、网络、报刊杂志上学习无损检测知识,了解无损检测相关信息,并和老师傅一起深入车间现场,奋战一线,丰富实践经验,利用一切机会扩大自己的知识面,拓宽理论知识,充实实践经验。 下面就以我现在工作中焊缝超声波探伤方法经验与大家交流一下。 缺陷识别 油田上使用的油管帽是由低合金钢机加工后焊接而成,对接处开U型坡口采用埋弧自动焊焊接而成,所以焊缝成形良好,干扰回波的出现具有一定的规律性。探伤时,应仔细观察半波程和全波程处探头对侧焊角引起的干扰波连续变化情况,注意区分探头侧焊角处缺陷引起的反射波,若在半、全波程范围之内有呈现最高振幅的其它反射波,在荧光屏上跟着探头同步移动,且其平面位置又位于近探头一侧的焊缝边缘,或者位于焊缝宽度当中,此即缺陷回波.如图(一)所示: 影响缺陷定位的因素 探伤焊缝的规格为φ127×23.68,φ123.9×29.25探伤时采用深度1:1调节时基线比例。在缺陷返修时,经常有焊工指出超声仪器测出的缺陷位置数据不准确,使焊补部位的长度和宽度修补增加许多,造成焊材和工时的浪费。究其原因,分析有以下几个: 时基线调节不准 我们知道,A型显示脉冲反射式超声波探伤仪屏显上提供给我们两方面的信息,一是回波声压,二是时间。回波声压的大小以波高来体现,仪器接收的回波声压大,缺陷反射回波高。缺陷距离探头晶片远,传播声程大,所需时间长,回波出现的位置在示波屏上偏后。当按一定比例调节时基线,可从示波屏上直接读出缺陷距离探头入射点的声程、深度、水平等数值。当调节时基线时,由于视差的影响,有可能造成反射波前沿与时基线刻度偏差,最终造成缺陷定位误差。 斜探头磨损的影响 当斜探头握持力度前后不均时,长时间使用下,造成斜探头前端磨损较后端大,结果使K值减小。设磨损前探头K1=2,一次波声程W=30mm,磨损后K2=1.8 ,一次波声程W仍为30mm,若按K1=2调节仪器,则缺陷深度h1=W cos(tg-1k2)=30×cos(tg-11.8)=14.6mm。由上述计算可知,每次探伤前,一定要准确测定探头K值和前沿长度,以避免探头磨损造成的缺陷定位误差。 曲面的影响 *** *** 环形对接焊缝探伤时,缺陷定位与平板对接焊缝不同,外圆探伤时,缺陷径向深度比仪器屏显小,而水平距离比屏显大。若仍按平板对接焊缝对缺陷定位,则可能把一次波探伤发现的根部缺陷误认为是二次波发现的内部缺陷,而二次波探伤发现的内部缺陷,也会误认为是焊缝以外的反射而误判。为了避免这种错误,应分析和推导公式来进行修正。 首先求出焊缝一次底波反射时对应的等效平板厚度 如图(三)所示,在△OFC中,根据勾股定理得: OC2=OF2+FC2 r2=(R-hmax)2+(Khmax)2 (K+1)h2max-2Rhmax+(R2-r2)=0 ∴ hmax= 若探伤仪屏显深度h1hmax,说明是一次波发现的缺陷,可按下式对缺陷定位计算: 缺陷深度H1=R- 缺陷弧长 L1= 若探伤仪屏显深度h2 hmax,说明是二次发现的缺陷,此时可按下列步骤对缺陷定位: 首先求出一次波入射到内壁时的反射角β',如图(四)所示, 由△AOC按正弦定理可得: '= '=Sin-1[.Sin]= Sin-1[.] 一次波对应的圆心角θ1='- 求二次波声程CD 设屏显深度为h2,则CD= = 求缺陷径向深度H2 如图,在△OCD中,∠OCD=180-' 由余弦定理得:OD2=CD2+OC2-2CD·OC ·Cos(180-') OD = = 则二次波探测实际缺陷径向深度:H2=R-OD 求二次波探测缺陷水平弧长L2 如图,在△OCD中,由正弦定理得 ∴θ2=Sin-1[·Sin( 180-')] 则AE对应圆心角θ=θ1+θ2 ; L2=AE=·θ 实际探伤时,针对不同规格,应用上述公式计算对照修正,就能达到准确探伤的结果。常见干扰回波的识别在超声波探伤中,屏显

文档评论(0)

153****9595 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档