SQC与SPC 2 .docVIP

三、管制圖的製作與使用步驟： X－R管制圖 預備數據的調查： 步驟1：收集數據─收集100個以上的數據，依測定時間順序或群體順序排列。 這些數據是最近的數據，並且在技術上認為製程不會有太大的變化。 數據的履歷必須很清楚。 步驟2：數據分組─把2~6個數據做為一組，將全部數據分為20~30組。 1)每一組內的數據個數謂之樣本數，以n表示。 2)組數以k表示。 3)同一組內不要含有異質的數據。 通常是以測定時間順序或群體順序排列。 步驟3：記入數據表─把數據記入如下頁圖表2.1.1的數據表裡。 步驟4：計算平均值 X (四捨五入後，比測定值多求1位數) 計算式如下： X1+X2+???＋Xn n 例如圖表2.1.1的第一組平均值計算如下： 48 + 49 + 48 + 50 + 51 5 步驟5：計算全距R 每組的全距R = X (max) － X (min) 例如圖表2.1.1的第一組的全距計算如下： R1 ＝ 51 － 48 ＝ 3 步驟6：計算總平均 (四捨五入後，比測定值多求2位數) 計算式如下 把k組X的平均值加總後除以k X1 + X2 +???＋Xk k ( k：組數) 例如圖表2.1.1的平均值計算如下： 49.2 +50.2 +50.4 +48.0 +‥‥+50.6 +49.6 +50.4 25 步驟7：計算全距的平均值 R1 + R2 +‥‥+ Rk k 例如圖表2.1.1的全距的平均值計算如下： 3 + 4 + 7 + 6 + 4 + ‥‥ + 8 + 6 + 3 + 4 25 步驟9：記入管制界限─在管制圖用紙上，繪上分度（上下管制界限之間隔約在20~30mm）。 中心線（CL）畫實線；UCL與LCL則畫虛線。 步驟10：調查是否在管制狀態 把點全部記入管制圖上，如果點都在管制界限內時，即認為製程是在管制狀態下，如果有超出管制限外的點時，就判斷製程非管制狀態，必須進一步做製程解析，追查原因，制定標準，採取去除原因的措施使製程完全能進入管制狀態，點在管制界限上時，亦視同超出界外的點。 管制界限與規格比較 1.指定有規格時 計算管制界限值所使用的全部數據，整理成直方圖，然後與規格比較。 直方圖正好在上、下規格之內時，如圖2.1.1認為製程能適合規格，而以後的製程管制就可採用(一)所計算的管制界限。 直方圖超出上、下界限規格外時，如圖2.1.2，為製程不能滿足規格，所以必須採取措施，把平均值移近規格中心，或縮小變異。採取措施以後重新自(一)做起。 如果採取措施在技術上，或經濟上有困難或不利時，就有考慮變更規格的必要。 2.未指定規格時可直接利用到製程管制上 製程管制 1.記入管制界限 把(二)認為可採用的管制界限，重新記入管制圖上。 2.記入點 方法和搜集預備數據相同，自製程抽取樣本，計算其X及R，隨即記入管制圖上。 3.發生異常原因的判定 a.記入的點在管制界限內時，判定製程的變動是偶然原因所引起，則可以繼續生產。 b.記入的點超出管制界限外時，判定製程發生不可忽視的異常原因存在。 4.措施 判定製程有不可忽視的異常原因存在時，就得立即探究原因，採取應急措施，及再發防止措施。 重新計算管制界限，製作新管制圖 管制界限若繼續使用到一個時期後，製程狀態可能改變，過去所使用的管制界限為基準的管制圖就不適合了。這樣的話，就需要重新搜集最近的數據，根據(一)以後各節的方法，重新計算管制界限。 P管制圖 預備數據的調查 以最近某一段期間的數據作為預備數據加以收集。 步驟6：記入管制線 中心線記入實線，UCL、LCL記入虛線。 步驟7：調查是否在管制狀態 記入的點全部在管制界限內時，認為數據的製程是在管制狀態。如果有點超出管制界限時，就判斷製程在非管制狀態，此時應進一步做製程解析，制訂標準並追查原因，採取改善措施。 落在管制界限上的點，亦視為超出界限外的點處理。 (二)根據預備數據檢討管制界限 預備數據調查結果，如果製程在管制狀態，就不必做製程解析。可以把(一)節所計算的管制界限值直接移到(三)節做平均不良率的檢討。 如果製程非管制狀態時，必須進一步