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　　　　液压压下及厚度自动控制系统  1. 概述 　　1.1 AGC系统 AGC是英文自动厚度控制(Automatic Gauge Control)的缩写，AGC 系统的定义为：承担轧制设备的在线调整任务以获得目标公差范围内的轧制产品的控制系统。 AGC控制系统由一定数量的直接或间接影响轧材厚度的控制系统组成。AGC系统控制厚度主要有三种手段： 　 a). 辊缝控制 b). 轧机速度控制 c). 带材张力控制 这些控制系统通常由传感器、控制器和执行机构组成。辊缝控制的主要执行机构是电动压下机构或液压压下机构。 2.0 测量仪表 　　2.1 厚度测量仪 用于轧机的测厚仪有接触式和非接触式两大类。接触式测厚仪适用于轧制速度较低的单机架冷轧机或离线测量，其代表产品是德国福尔默公司（VOLLMER）的1076型测厚仪。在线轧制测量一般使用非接触式测厚仪，非接触式测厚仪可分为三类： 　 a) 光学测厚仪 b) 同位素测厚仪 c) X射线测厚仪 　　上述这些测厚仪不仅其工作原理各不相同，而且其测量范围、测量精度和动态响应特性也各不相同。 　　2.1.1 接触式测厚仪 德国VOLLMER公司VBM 1076 E型接触式测厚仪是该公司的代表产品，在我国有色金属行业的冷轧机上大量的采用了该型号的测厚仪，VBM 1076 E测厚仪技术数据如下： 测量范围： 0.02～6 mm 测量深度： 100mm 轧制速度： 无限制 厚度偏差灵敏度范围： ±10μm、±30μm、±100μm、±300μm、±1000μm 厚度偏差输出电压Ⅰ： ±2V～±10V 厚度偏差输出电压Ⅱ： ±20mV/μm～±120Mv/μm 响应时间： 7.5ms 2.1.2 光学测厚仪 　　用于轧机的光学测厚仪有两种类型，它们的主要差别是测量传感器的工作原理不同，一种采用比较法，另一种采用移象法。比较法光学测厚仪是由澳大利亚Broken Hill Proprietary 公司( BHP)开发的，移象法光学测厚仪是由美国Qualimatrix公司开发的。移象发光学测厚仪的技术特性如下： 坯料厚度： 50～500 mm 扫描频率： 16,000 Hz 精度: ±0.75 mm 坯料最高温度： 1260 ℃ 坯料最大速度： 305 m/min 传感器位于轧线上方高度： 1220 mm 光学测厚仪的主要优点测量不需要穿透轧件，因此轧件的材质不影响测量读数。光学测厚仪的另一个优点是响应频率高。在厚板和坯料的测量中通常使用光学测厚仪，而对于厚度小于50mm的坯料，采用同位素测厚仪也是可行的。 2.1.3 同位素测厚仪 在同位素测厚仪中，通过测量来自核放射源射线的衰减决定产品的厚度。此测厚仪的测量读数需要根据材质和测量范围最佳化功能进行修正，射线的强度随同位素的衰变而变化，衰变率由同位素的半衰期决定并且是可预测的。例如，镅241 射源的半衰期是460年。 同位素测厚仪的响应时间比光学测厚仪和Ｘ射线测厚仪要长，它的主要优点是操作和维护简单，主要缺点是同位素测厚仪利用具有潜在危险的γ射线源或者β射线源。应用于钢材的利用γ射线源的同位素测厚仪的典型技术规格如下： 测量范围： 0～6 mm 测厚仪气隙： 50～600 mm 稳定性(在25℃)： ±0.25% (8小时内) 滤波时间常数： 5～100 ms 校准精度： ±0.25% 精度： 在 25 ms 响应时间为±0.20% 在 100 ms 响应时间为±0.13% 响应时间： 对于阶跃变化为 1 ms 射源： 1 居里 镅241 射线检测器： 电离室 　　在大约20m